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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 失效分析設(shè)備 > ESD測試設(shè)備 > HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備
簡要描述：目前，對于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對于在以往的TLP測試機(jī)無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在TLP傳輸線脈沖測試儀上得以實現(xiàn)、并有助于高耐壓元件工作參數(shù)的取得及分析。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-01-03訪 問 量：2191產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC
TLP 測試機(jī)
l 用于獲取器件保護(hù)電路的相關(guān)參數(shù)特性
l 為器件升級提供支持，縮短產(chǎn)品周期
l 提供普通和VF（非常快）型號。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。
l 具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產(chǎn)率。
l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測試儀結(jié)合使用現(xiàn)在提供大電流輸出型號（T5000-HC）。
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備
此設(shè)備是對保護(hù)電路的工作特性進(jìn)行模擬測試的設(shè)備
對集成電路里保護(hù)電路的工作參數(shù)的收集與分析有很大幫助
也可進(jìn)行VF-TLP測試
| 產(chǎn)品名/型號 | 設(shè)備說明 | 設(shè)備介紹視頻 |
|---|---|---|
 HED-T5000/ | 此設(shè)備配備了先進(jìn)的測試模式 | |
 HED-T5000-HC | 目前，對于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加 |
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